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貼片晶振的測試方法(晶振測試儀)

日期:2024-09-20 15:36
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摘要:

貼片晶振的測試方法(晶振測試儀
產品簡介:
一、CX-117A是高性價比的晶振測試系統(tǒng),采用微處理器技術,實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)的生產和科研之用。。
具有PPM測量功能,預置頻率F0可任意設置。該功能特別適合于晶體振動器生產企業(yè),測試結果顯示直觀。
主要功能:頻率測量,PPM測量,周期測量,數(shù)據累計 ,功能設定
  
二、主要技術指標:
頻率測量范圍: 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度:30mv
PPm測量:3KHz — 100MHz
PPm測量精度:≤1 PPm (1×10-6)
(可擴展0.1PPm , 0.01 PPm)
中心頻率:0 Hz — 100 MHz任意設定
誤差設置范圍設定:± 1 — ± 999 PPm任意設定。
閘門設置:四檔 ,0.01s、 0.1s、1s三檔固定,
1檔閘門1ms — 10s可設,
每1mS為一階梯任意設定。
周期測量范圍:100 ms — 10 s
晶振穩(wěn)定性:5 ×10-7 / 日
(可選 1 ×10-7/ 日,1 ×10-8 / 日)
時基頻率:OCXO--10MC

三、特點:
微機控制,可編程器件開發(fā), 模塊化設計
100MHz同步等精度測量方式
SMT貼裝生產、工藝,全新小型化結構設計
9位LED顯示
PPm提示功能

四、可選配:
晶體測量匹配器:32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

 
晶體振蕩器測試座: 有貼片和插件2種可選,貼片測試座需要安裝在插件測試座上方能使用。

粵公網安備 44030602001687號